情報セキュリティ工学研究室の成松 貴さん(博士前期課程2年)が、機構デバイス研究会若手優秀賞(大学院部門)を受賞しました。(2019/3/1)

電子情報通信学会機構デバイス研究会(EMD：Electro- Mechanical Devices)とは機構デバイスに関する最新の研究成果について発表および議論を目的とした研究会です。毎年3 月は卒論・修論特集として開催しており、若い学生に学会発表を経験してもらう貴重な場となっています。今年度は2019年3月1日に電気通信大学にて開催され、成松貴さんが大学院部門で若手優秀賞を受賞しました。

• 受賞者 Awarde:
  　成松 貴
  

  

  
  
• 研究テーマ Research theme:
  "締め付けトルクの減少が接触境界の高周波素子に与える影響に関する検討"
  　相互接続された電子機器のコネクタの部に接触不良が生じた場合、イミュニティが低下し、周辺の電磁環境に影響を与える可能性がある。過去の検討にて、コネクタの緩みによって高周波素子が増加し、放射電磁雑音を増加させることが示されている。しかし、緩みの程度と接触面の高周波素子の増加の関係に関しては十分な議論がなされていない。本稿は緩みの指標としてコネクタの締め付けトルクを用い、トルクを変化させた状態で接触面の高周波素子の測定をすることでコネクタの締め付けトルクの変化が接触面の高周波素子に与える影響について検討し、高周波素子の変化からトルクの変化による導体の接触状態の変化について考察する。
  
  
• 著者 Authors:
  成松 貴、藤本 大介、林 優一
  
  
• 受賞者のコメント Awardee's voice
  　今回、このような賞をいただけて大変うれしく思います。本賞を励みに今後も精進していきたいと思います。
  
  
• 外部リンク Links to：
  電子情報通信学会　HP:機構デバイス研究会
  
  

>> 情報セキュリティ工学研究室 Information Security Engineering lab.