2007.10.8-2007.10.14 中華人民共和国・北京
Asian Test Symposium (ATS07)・Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT07) コンピュータ設計学講座:博士後期課程2年 |
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【発表内容】 Thermal-Safe Test Access Mechanism and Wrapper Co-optimization for System-on-Chip SoCに関しては、テスト計画は通常テストデータ伝播方法(TAM、テストアクセス機構)の設計、およびテスト対象コアを隔離するラッパーの設計が行われる。今まで提案されたテスト容易化設計手法では、ほとんど消費電力と温度の比例関係にこだわり、過熱の抑制のため消費電力制約下にテスト設計を行われた。従来のテスト設計手法は各テストに一定のピーク消費電力を仮定するグローバルなピークパワーモデルを使用し、これはパワー制約に一切超えないのを保証するが、それは最悪の場合によって設計され、かなり悲観的である。その上、チップ上には空間的配電が不平等のため、局所的加熱(ホットスポット)はチップ全体の加熱より速く起こり、チップレベルの消費電力制限だけでは過熱を抑えられない。つまり、これからのテスト設計は過熱の空間的・時間的な振る舞いを考慮しなければならない。 本研究では、温度制約を考慮したラッパーとTAMの設計方法を提案し、その上制約を満たすようなテストスケジュールを求めるスケジューリング手法も提案する。その間、テストの時、熱が一般的なLSIでどのように発生し、伝達されるのかを調べ、半導体の材料、チップの形状、回路のレイアウト、パッケージと冷却方法の効果などを調べてモデル化する。そして、このモデルに基づいてスケジューリングアルゴリズム、DFT設計アルゴリズムなどを開発する。 【会議の内容】 【研究技術交流等】 |
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2007.10.17-24 中華人民共和国・北京
Asian Test Symposium (ATS) and Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2007 コンピュータ設計学講座:
博士後期課程3年
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【会議の内容】
Asian Test Symposium (ATS'07) is an annual event organized in Asia. This year the Institute of Computing Technology of the Chinese Academy of Science in Beijing plays host. The symposium was held at the Beijing Friendship Hotel from 9-11 October 2007. The symposium attracts many veterans as well as new researchers from all continents in the field of VLSI testing. Sixty-nine papers were presented during the three-day symposium, beginning with four very informative plenary talks given on the first day. I presented a paper on Network-on-Chip testing entitled "Area overhead and test time co-optimization through NoC bandwidth sharing" on the third day. Many people attended and asked questions. After the presentation I was honored to be asked by a plenary speaker from Intel if I could send him an electronic copy of the paper. I had a good discussion and received some advice from an industrial perspective. Attending the symposium gave me opportunities to discuss my research areas with other prominent researchers from the industry as well as the academia. After the symposium, I attended the Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) from 12-13 October, which was held at the same venue in conjunction with the ATS'07. |
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2008.12.1-6 中華人民共和国・北京
2nd International Workshop, Software Productivity Analysis Cost Estimation(SPACE2008) 15th Asia-Pacific Software Engineering Conference(APSEC2008) ソフトウェア工学講座:
博士前期課程2年
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【発表内容】 ソフトウェア開発において、開発中もしくは将来のプロジェクトの計画立案や管理を目的として、重回帰モデルを利用した開発工数の予測が行われている。一般に、モデル構築に使用するプロジェクトデータには未記録の値(欠損値)が存在するため、モデル構築を行う前に、欠損値を何らかの値で補完する(欠損値補完法)、または、欠損値を含むメトリクスやプロジェクトを削除することで欠損値のないデータセットを作成すること(無欠損データ作成法)が必要となる。ただし、いずれの手法がプロジェクトデータに適しているかは従来明らかにされていない。 本論文では、複数の企業で収集された706件(欠損率47%)のプロジェクトデータに対し、4つの欠損値補完法(平均値挿入法、ペアワイズ除去法、k-nn法、CF応用法)及び、無欠損データ作成法を適用し、重回帰モデルの構築を行った。各手法の予測精度を評価するために欠損のない143件のプロジェクトの工数予測を行った結果、類似性に基づく欠損値補完手法(k-nn法、CF応用法)を用いる場合に高い精度のモデルが構築されることがわかった。 【会議の内容】 |