本発表では，短いテスト時間，少ないテストデータ量で高い故障検出率を達成することを目的とし，重み付きランダムパターン生成技術にLFSRリシーディング技術を組み合わせた提案手法について説明する．従来の重み付きランダムパターン生成技術では，LFSRのシードは固定とし，重みデータを変更することで高い故障検出率を実現している．これに対し，本研究の提案手法では，重み付きランダムパターンを用いるが，各FFの重みを1つに固定することで重みデータを不要とし，テストデータ量が小さいLFSRリシーディング技術を用いることで，少ないテストデータ量で高い故障検出率を実現する． また，本発表では，各FFに対する重みを固定した場合でも，高い故障検出率を実現可能とするスキャンチェーンの構築方法について説明する．さらに，Random Pattern Resistant故障に対する決定的テストパターンから，重み付きランダムパターン発生器のシードを生成する技術についても説明する．
実験結果より，LFSRリシーディング技術および重み付きランダムパターン生成技術に対する提案手法の有効性について説明する．提案手法は，LFSRリシーディング技術に対して，同一の故障検出率を実現するために必要となるテストデータ量で最大80%の削減を達成した． また，重み付きランダムパターン生成技術に対しては，提案手法はテストデータ量で最大78%の削減が可能であることを示した．