フィールドでの組み込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法
吉見 優太(1151117)
LSIの生産テストにおける圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため、その処理手法について盛んに研究が行われている。圧縮テストを発展させたフィールドでの組み込み自己テストにおいても同様の問題が起きるが、これらの手法を実現する場合、テストデータ量、テスト時間などの制約の考慮が必要となる。
本発表では、フィールドテストにおける制約の中からテストデータ量に焦点を当て、X-Cancelingと呼ばれる既存手法において、不定値処理タイミングを一定間隔にすることによってタイミング情報に関するデータ量の削減を行う手法を提案する。また、提案手法の有効性をベンチマーク回路を用いた実験により示す。