機能記述レジスタ転送レベル回路のテスト環境生成法
清水 祐紀 (0751060)
本論文では，ADD(Assignment Decision Diagram)で表現される機能記述RTL (Register Transfer Level)回路を対象に，それらを構成する各要素のテスト環境を生成する問題を考察する．ADDを対象にテスト環境を求める方法としては，GhoshらやZhangらにより9値及び10値代数の記号処理に基づく方法が提案されているが，本来テスト環境が存在するにも拘らず生成に失敗する場合が数多く存在することが分かっている．本論文では，それらの方法で生成できるテスト環境に加え，さらに多くのテスト環境を生成するために，記号処理の規則（正当化／伝搬規則）を拡充したテスト環境生成手法を提案する．