内蔵プロセッサを利用したマイクロコントローラのテスト高速化に関する研究
大坪裕 (9751021)
近年の半導体技術の進歩により，CPU，RAM，周辺回路等，多くの機能モジュールを１チップに内蔵するマイクロコントローラ等のLSIが一般的に製造されるようになってきている．これに伴い，LSIの故障の有無を調べるテストも益々重要な問題となってきている．マイクロコントローラなど複数の機能モジュールを内蔵するLSIでは，一般に，外部からテスタを用いて，各モジュールをそれぞれ逐次的にテストを行うため，テストの実行に多くの時間を要する．
本発表では，外部からのテストを行うだけでなく内蔵CPUを用いたテストも並行させるテスト実行法を提案する．その上で複数のモジュール配置,モジュールのテストプログラム選択が考えられる場合のテスト実行時間最小化問題について考察を行い，それらを解く発見的手法を提案する．また，実験によって提案する並列テスト手法とテスト実行時間最小化問題を解く発見的手法の有効性を示す．