L/H型レジスタを有する無閉路順序回路のテスト生成法
三原 隆宏 (9651105)
本論文では，ホールド機能を持つレジスタ（L/H型レジスタ）を有する無閉路
順序回路のテスト生成法を提案する．L/H型レジスタを考慮した時間展開モデ
ルを提案し，無閉路順序回路に対するテストが，提案する時間展開モデルを用
いて，組合せテスト回路用テスト生成アルゴリズムでテスト生成可能であるこ
とを示す．本手法により，一般の順序回路を部分スキャン設計によって
組合せテスト生成アルゴリズムでテスト生成を行う際のスキャンオーバーヘッドは，
既に提案されているL/H型レジスタを含まない無閉路順序回路のテスト生成法に比べて
小さくなる．