論理回路内に故障が存在するか否かを判定することを論理回路のテストという．順序回路のテストは非常に困難であるため様々なテスト容易化設計が考えられている．テスト容易化設計の中で現在よく用いられているものに部分スキャン設計がある．部分スキャン設計は，一部のフリップフロップをスキャンパスと呼ばれる経路で接続し，外部から直接制御／観測できるようにした設計法である．本論文では，回路の既存の経路をスキャンパスとして利用する直交スキャンパスを用いる部分スキャン設計を提案し，提案する手法は従来の部分スキャン法と比較してハードウェアオーバヘッドが小さいことを示す．