●4月22日(木)場所:L3講義室 時間 発表者 主審査委員 副審査委員 (敬称略) (敬称略) 10:30〜11:30 大竹哲史 藤原秀雄 渡邉勝正、福田晃、増澤利光 「順序回路の非スキャンテスト容易化設計ならびにテスト生成に関する研究」