論理設計学 II
Advanced Logic Design II
講義内容
コンピュータを構成する論理回路のテスト，テスト容易化設計，フォールトト
レラント設計などの高信頼性設計論を講述する。
具体的には，以下の内容を講義する。
- 論理回路の故障モデルと故障診断
- ブール微分
- テスト生成アルゴリズム
- 故障シミュレーション
- テスト問題の計算複雑度
- テスト容易化設計
スキャン設計
組込み自己テスト方式
- フォールトトレラントシステムの設計思想
- セルフチェッキング論理回路
- 誤りマスクとフェイルセイフ技術
- システムの再構成と回復技術
教科書
当麻，南谷，藤原：フォールトトレラントシステムの構成と設計，槙書店，
1991
参考書
- 藤原：コンピュータの設計とテスト， 工学図書，1990
- H.Fujiwara: Logic Testing and Design for Testability, MIT Press, 1985
- P.K.Lala: Fault Tolerant and Fault Testable Hardware Design,
Prentice-Hall, 1985
- M.Abramovici, et al.: Digital Systems Testing and Testable Design,
Computer Science Press, 1990
前提とする知識(必ずしも先修条件ではない)
- 論理設計基礎，計算機アーキテクチャ基礎（計算機構造概論）
- 論理設計，設計検証（論理設計学 I）