| 日時(Date) |
2026年01月22日 (木) / Jan. 22nd, 2026 (Thu.) 3限 (13:30--15:00) / 3rd period (13:30--15:00) |
|---|---|
| 場所(Location) | L1 |
| 司会(Chair) | Sasaki sensei |
| 講演者(Presenter) | 石山 塁, 客員教授, NAISTシンビオティックシステム研究室/NEC (Rui Ishiyama, Affiliate Professor, Symbiotic Systems Laboratory, NAIST (NEC Corporation)) |
| 石寺 永記, 客員准教授, NAISTシンビオティックシステム研究室/NEC (Eiki Ishidera, Affiliate Associate Professor, Symbiotic Systems Laboratory, NAIST (NEC Corporation)) | |
| 題目(Title) | 物体認証と個体識別―人工物メトリクスと動的知識補完型目視検査 |
| Object Authentication: Artifact Metrics and Reference-Augmented Visual Inspection | |
| 概要(Abstract) | [日本語概要]: 「人工物メトリクス」は、製造時に生じる微細な個体差を「指紋」のように利用し、あらゆる物体の真贋判定や個体識別を実現する技術です。本講演では、この技術の認識手法と幅広い産業での実用例を概説します。また、別の実用的な手法として、製品パッケージの目視検査が挙げられます。偽造薬が深刻な社会問題となっている医薬品分野などを例に、コンピュータビジョンとウェブ上の動的知識収集によって目視検査を高度化する取り組みについても紹介します。 |
| [English Abstract]:Artifact metrics" is an object authentication method using the unique intrinsic characteristics of an object, such as microscopic random patterns inherently generated during manufacturing. It is a "sibling" of biometrics, such as human fingerprints. We review the methods to recognize it and its practical applications across various industries. Visual inspection of product packaging is another practical method for authentication used in many markets, including pharmaceuticals, where fake drugs cause a serious social problem. We tackle this using computer vision with dynamic knowledge collection from the web | |
| 講演言語(Language) | 日本語 |
| 講演者紹介(Introduction of Lecturer) |