| DAMRONGSIRI HATHAICHANOK | M, 2回目発表 | ソフトウェア工学 | 松本 健一, 笠原 正治, 石尾 隆（客員教授）, Raula Gaikovina Kula, 嶋利 一真 |
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title: Understanding Pythonic Idioms in Python Textbooks
abstract: Python, a widely adopted programming language, is celebrated for its versatility, particularly in managing large datasets. Within the Python community, the term “Pythonic” signifies a coding style that not only enhances code readability but also improves efficiency. Pythonic Idioms represent the specific coding patterns that encapsulate this Pythonic style. This study seeks to explore the extent to which Python textbooks incorporate Pythonic code into their content. Additionally, it aims to investigate the rate of false positives when detecting Pythonic idioms. Furthermore, the research delves into whether the introduction of Pythonic Idioms remains consistent within the Python API documentation. By addressing these questions, this study provides insights into Pythonic coding practices in Python books and its alignment with the Python API, shedding light on the broader adoption and consistency of Pythonic idioms in the Python programming community. language of the presentation: English | |||
| 山岡 厚仁 | M, 2回目発表 | ソフトウェア工学 | 松本 健一, 笠原 正治, 石尾 隆（客員教授）, Raula Gaikovina Kula, 嶋利 一真 |
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title: Support for analysis of library incompatibilities using execution trace differences
abstract: Libraries are essential to software development. Libraries are updated daily to add functionality and fix vulnerabilities. Since these updates are performed independently of the software, applying library updates when the library is not backward-compatible may cause the software to malfunction. To support the analysis of such library incompatibilities, this study performs unit tests on the software side before and after each update of the libraries on which the software depends, and analyzes the behavior of the libraries that did not pass the tests. Specifically, the instruction sequences related to control paths and return values in the unit test execution are dynamically obtained, hash values are created for each method from these instruction sequences, and execution is compared using a Markle tree structure. The goal is to automatically detect and present the candidate method that caused the incompatibility. language of the presentation: Japanese 発表題目: 実行トレースの差分を用いたライブラリ非互換性の分析支援 発表概要: ソフトウェアの開発にはライブラリの利用が欠かせない．ライブラリは機能の追加や脆弱性の修正を目的とした更新が日々行われている．これらの更新はソフトウェアとは独立して行われているため，ライブラリが後方互換性を持たない際にライブラリの更新を適用することでソフトウェアが正常に動作しなくなる可能性がある．本研究ではこのようなライブラリ非互換性の分析支援を目的として，ソフトウェアが依存しているライブラリの更新前後それぞれにおいてソフトウェア側の単体テストを実行し，テストに通らなかったライブラリの挙動を分析する．具体的には単体テストの実行における制御パスや戻り値に関連する命令列を動的に取得し，これらの命令列からメソッド単位でハッシュ値を作成してマークル木という構造を用いて実行の比較を行う．これにより非互換性の原因となった候補のメソッドを自動的に検出して提示することを目指す． | |||
| 西村 栄人 | D, 中間発表 | 大規模システム管理 | 笠原 正治, 松本 健一, 笹部 昌弘（客員教授） |
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Title: Fault factor analysis of the semiconductor manufacturing process using the Bayesian network
Abstract： The semiconductor manufacturing process has a long production time of 16 weeks, while the product life cycle is short, lasting about 6 months. In addition, in the manufacturing process, a complex manufacturing technique called a re-entrant flow shop is used, where a single product is processed multiple times using the same equipment. However, this technique constantly updates the process handling, resulting in instability in the production process and causing numerous issues. In this research, we investigate the occurrence of "failure factors" in the manufacturing process of complex product systems in semiconductor manufacturing using Bayesian network, identifying the factors that cause many problems. language of the presentation: Japanese 発表題目: ベイジアンネットワークを用いた半導体製造プロセスの故障要因分析 半導体の製造プロセスは生産期間が16週間と長いものの、製品ライフサイクルは約6か月と短い。 また、製造工程においては、一つの製品を同一の設備で何度も加工するリエントラントフローショップと呼ばれる複雑な製造工程手法を採用しているが、それは常に工程処理を更新しており、その影響により生産工程が不安定となり、 多くの問題を引き起こしている。本研究では、半導体製造工程における複雑な製品システムの製造過程で発生する「故障要因」の発生とその解決にベイジアンネットワークを用いて調査し、多くの問題を引き起こす要因を明らかにする。 | |||