| ゼミナールI講演 |
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| 日時： | 平成21年6月5日(金)3限 (13:30 -- 15:00) |
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| 場所： | L1 |
| 講演者： | 高松 雄三(愛媛大学 名誉教授) |
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| 題目： | ナノメータＬＳＩの故障診断について |
| 概要： | 近年，ますます大規模・微細化するナノメータLSIのテストに論理組込み自己テスト(Logic BIST)が実用化されている。BISTでフェイルしたLSIは何が原因か短期間で効率よく調べなければならない。LSIの開発・製造はより早く，より安く，そしてより高品質が求められるからである。本講演では，BIST後の故障診断法およびナノメータLSIで顕在化してきたオープン故障の新しいモデルとそのテスト及び故障診断法について概説する。 |
| 講演者紹介： | 1966年愛媛大学工学部電気工学科卒業、佐賀大 学理工学部助教授、愛媛大学工学部情報工学科教授、同大学院理工 学研究科長，工学部長、愛媛大学評議員，学長補佐などを歴 任、2009年３月定年退職、現在愛媛大学名誉教授。 IEEE Computer Society Meritorious Service Award(1997 年)，電子情報通信学会論文賞（2005年），共同研究お よび人材育成に関して株式会社半導体理工学研究センターより感謝状 （2006年）。電子情報通信学会正会員，情報処理学会正会員，The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.（米国 IEEE）Senior Member 。 これまで、計算機システムにおける高信頼化技術およびその実現法に関 す る基礎的研究からその実用化への研究に従事、テストパ ターン生成アルゴリズム、故障診断アルゴリズムなどに関して多く の 研究成果を発表 |